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Technical articles
更新时间：2023-07-20
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美国达高特CMX DL+超声波测厚仪主要功能特点
CMX DL+ 测厚仪不仅有MVX的所有功能，而且还有同时测量金属基体和表面非金属涂层厚度的能力。
测量方式（仅测量基体厚度、同时测量基体和涂层的厚度、仅测量涂层厚度）
显示模式（数字式显示、B扫描显示、A扫描显示<仅cmx>）
增益可调节：低、中、高
增益值可到110dB
自动增益控制（AGC）
时间增益校正（TCG）
探头自动识别，自动调零和温度补偿
最大值、最小值显示
可存储64个用户参数设置
高速扫查（50次/秒）
高达140HZ的脉冲重复频率
B扫描显示用于显示被测材料的截面形状
A扫描波形显示和RF显示（CMX DL+）
差值测量模式
高速扫查功能可用于快速找到壁厚的最小值
上/下限声光报警功能
数据存贮：可储21000个测量厚度值或者16000个测量厚度值和B扫描图形及参数
可通过软件与计算机进行数据交换，方便用户打印检测报告
技术参数：
界面波-底波(P-E)方式：0.63－508mm
带自动温度补偿的界面波-底波(PETP)方式： 0.63－508mm
多层测量(PECT)方式：0.63－508mm（基体） 0.01－2.54mm（表面涂层）
穿透涂层测量(E-E)模式：2.54—102mm（因涂层的不同会有所变化）
仅测量涂层(CT)模式：0.0127——2.54mm（因涂层的不同会有所变化）
当前位置：
